大家好,今天小编关注到一个比较有意思的话题,就是关于荧光分析仪的工作电压的问题,于是小编就整理了4个相关介绍荧光分析仪的工作电压的解答,让我们一起看看吧。
1、X射线荧光光谱仪
透射电子:若样品很薄,部分电子穿过试样成为透射电子。因此,对于薄样,可以利用特征能量损失配合电子能量分析器进行微区成分分析。
X射线荧光光谱仪是一种非常重要的分析仪器,广泛应用于材料检测、环保监测、地质勘探等领域。全球有许多知名的品牌,如奥林巴斯、布鲁克、赛默飞等。奥林巴斯这个品牌都不陌生了,在市场上有很高的知名度和用户口碑。
**元素分析:** X射线荧光光谱仪可以用来快速、准确地分析样品中的元素成分。通过照射样品表面,样品中的原子会吸收X射线并发射出荧光辐射,通过测量这些荧光的特征能量,可以确定样品中的元素种类和相对含量。
根据荧光能量的强度来判断原子的含量有多少。X射线荧光光谱仪就是利用这个原理进行对物品所含原子的测量。而现有的X射线荧光光谱仪包括能量色散型X射线荧光光谱仪(EDX)、波长色散型X射线荧光光谱仪(WDX)。
特别是奥林巴斯X射线荧光光谱仪Vanta,它有两种不同的型号,分别适用于不同的检测环境,可以满足不同的使用需求。
2、X射线荧光分析仪
X射线荧光光谱仪是一种非常重要的分析仪器,广泛应用于材料检测、环保监测、地质勘探等领域。全球有许多知名的品牌,如奥林巴斯、布鲁克、赛默飞等。奥林巴斯这个品牌都不陌生了,在市场上有很高的知名度和用户口碑。
根据我的工作经验,比较推荐奥林巴斯X射线荧光光谱仪,它应用领域非常广泛,如工业制造、地质行业、锂电池等都可以检测。
X射线衍射仪可分为X射线粉末衍射仪和X射线单晶衍射仪器.由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难。所以目前X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术。单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构。
X荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试技术,已广泛应用于宝石矿物、材料 科学、地质研究、文物考古等诸多领域。基本原理 X射线是一种波长(λ=0.001——10nm)很短的电磁波,其波长介于紫外线和Y射线之间。
推荐奥林巴斯。他家的产品我用了两年了,非常好。特别是奥林巴斯X射线荧光光谱仪Vanta,它有两种不同的型号,分别适用于不同的检测环境,可以满足不同的使用需求。
3、X射线荧光分析仪的技术参数
XRF的检测精确度远不如原子吸收光谱分析仪,因此怎么可能是PPB级。。 原子吸收的最小检测极限是2PPM,因此XRF最小检测极限只会比2PPM大,而且大不是大一点。最少也是上百上千PPM。 而且XRF的精确度只有80%。
一般进口台式的X荧光分析仪都是辐射免检产品,工作情况下,在仪器贴边部位辐射剂量不超过0.1usv/h(每小时0.1个单位)。这是很低的辐射量,因为一个人每年收到自然界辐射要有2400usv(每年2400个单位)。
所以开展工作前,必须保证所使用的X射线荧光仪工作性能稳定正常;并按仪器操作说明书完成测试参数的设置准备工作(完成各种目标元素微分谱的测量,并根据所测目标元素的微分谱来对目标元素的测量道址进行设置等)。
此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出最具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
4、如何用X-荧光仪分析与测定铁矿石中铁元素
取出坩埚,冷却后刮出熔块,在玛瑙研钵中研细后放在30mm的铝盘中,用铁模压平,加6~8滴加拿大胶的苯溶液固定,干后供测定用。
采用低压聚乙烯粉镶边垫底的粉末压片法制样,X射线荧光光谱法对硫化镍精矿样品进行直接测定。用铑靶Ka线的康普顿散射线对Ni和Cu进行内标校正;其余元素以经验系数法校正元素间的影响。
测定铁矿石中铁的含量最常用的方法是重铬酸钾法。经典的重铬酸钾法(即氯化亚锡-氯化汞-重铬酸钾法),方法准确、简便,但所用氧化汞是剧毒物质,会严重污染环境,为了减少环境污染,现在较多采用无汞分析法。
实验设计 为了更好地认知并了解铁矿石所含化学成分,决定将X射线荧光光谱分析应用与分析工作中[1]。以下将以实验形式作为主要的研究方法,以期能够获得理想的研究成果。
天然铁矿石中一般不会出现氧化亚铁相。实验目的 (1)了解X射线衍射仪的结构原理及其使用。(2)掌握采用X射线衍射仪进行物相分析的制样方法。(3)熟悉使用X射线物相分析的基本方法。
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