大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于椭偏测量仪样品测试实验的问题，于是小编就整理了3个相关介绍椭偏测量仪样品测试实验的解答，让我们一起看看吧。
1、椭偏仪测折射率和薄膜厚度
能测量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2个数量级。是一种无损测量，不必特别制备样品，也不损坏样品，比其它精密方法：如称重法、定量化学分析法简便。可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数。
椭偏仪测薄膜厚度的基本原理如下：椭偏仪通过使用一系列的偏振器和相位板，改变入射光的偏振态，如线偏振或椭圆偏振，在通过薄膜后，根据薄膜对入射光偏振态的影响，可得到反射光和透射光的偏振态。
椭偏仪适合：厚度为0.1nm到几微米的薄膜测量，其厚度测量精度可达到原子层量级，即0.1nm以下。反射式膜厚测量仪适合：厚度为50纳米到几十微米的稍后些的薄膜，其厚度测量精度为1nm以上。
可以。可以利用椭偏仪对柔性基底上氧化铝薄膜的厚度及折射率进行测量。椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。
会。纳米级的薄膜会有纳米尺寸效应，导致材料性质大变。折射率会变，我看过一篇文献，讲的大致内容是椭偏仪测金属薄膜厚度（50纳米），虽然能测，但是测不准，因为纳米级金属材料折射率随尺寸影响，你可以去查查。
2、椭偏仪测薄膜厚度的基本原理
椭偏仪测薄膜厚度的基本原理：电磁阻抗原理。交流阻抗也叫做电化学阻抗谱（Electrochemical Impedance Spectroscopy，简写为 EIS），早期的电化学文献中称为交流阻抗（AC Impedance）。
椭偏仪测薄膜厚度的基本原理如下：椭偏仪通过使用一系列的偏振器和相位板，改变入射光的偏振态，如线偏振或椭圆偏振，在通过薄膜后，根据薄膜对入射光偏振态的影响，可得到反射光和透射光的偏振态。
椭偏仪测折射率和薄膜厚度：通常表示设介质层为入射角的度数和折射范围的厚度。椭圆偏振光在样品表面反射后，偏振状态会发生变化，利用这一特性可以测量固体上介质薄膜的厚度和折射率。
可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数。因此可以作为分析工具使用。对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感。
反射式膜厚测量仪：一般是利用白光干涉的原理，通过测量光波经样品反射后幅值（或者说光强）的变化来获得膜层的厚度d、折射率n和消光系数k信息。
3、为什么利用等幅可调椭偏光可使测量简化
引言 椭圆偏振测量法，简称椭偏光法，是测量研究介质表面界面或薄膜光学特性的一种重要 光学方法。它是将一束偏振光非垂直地投射到被测样品表面，由观察反射。 实验目的 了解椭偏光测量原理和实验方法。
等幅椭偏光是P分量与S分量的振幅相等的情况。书上就说此处振幅相等的P分量与S分量合成的光是等幅椭偏光。
等幅椭偏光是P分量与S分量的振幅相等的情况。书上就说此处振幅相等的P分量与S分量合成的光是等幅椭偏光。
楼上两位都不正确，但是一楼实在错的离谱。 等幅椭偏光是P分量与S分量的振幅相等的情况。书上就说此处振幅相等的P分量与S分量合成的光是等幅椭偏光。
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