大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于x荧光分析仪样品漂移的问题，于是小编就整理了3个相关介绍x荧光分析仪样品漂移的解答，让我们一起看看吧。
1、X射线荧光光谱法测定镍精矿中镍、铜、铁、钴、硅、钙、镁和硫
采用低压聚乙烯粉镶边垫底的粉末压片法制样，X射线荧光光谱法对硫化镍精矿样品进行直接测定。用铑靶Ka线的康普顿散射线对Ni和Cu进行内标校正；其余元素以经验系数法校正元素间的影响。
它是通过聚焦得很细的高能量电子束（1μm左右）轰击样品表面，用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长与强度，或用半导体探测器的能量色散方法，对样品上被测的微小区域所含的元素进行定性和定量分析。
硫酸镍中镍的测定。称取0.1～0.2g试样于250mL烧杯中，加入100mL乙酸铵Na2SO3溶液，在室温条件下搅拌浸取1h，过滤，用稀的中性乙酸铵溶液洗涤残渣，滤液用HNO3H2SO4处理后测定的Ni为硫酸镍。
容量法是指根据试样在反应中所需要消耗的标准试液的体积。容量法即可以测定式样的主要成分，也可以测定试样的次要成分。化学成分容量分析法，主要分为沉淀滴定分析、酸碱滴定分析、络合滴定分析、氧化还原滴定分析。
直接用粉末试样测定的方法，如X射线荧光光谱法中的粉末压片法，发射光谱中的半定量分析和某些元素的定量分析、微区分析中的电子探针测定技术分析等，在地质分析中有重要的作用。但就地质试样整体分析而言，上述情况占的比重很小。
2、荧光仪器漂移校正没调好,对做石灰石有影响吗
做一下检测样，如果检测样的测定结果没问题，其他样品的测定结果也不会有问题。管理好荧光仪不容易，需要精通生产控制和化学分析，也要学会配料计算和配料调整。
荧光仪是不能测量样品烧失量的，但样品烧失量的变化会使荧光结果的SiOCaO与化学分析发生偏差，尤其对水泥CaO的影响最为明显。
④荧光分析中，由于分析面上的样品灰未除掉，久之影响到仪器真空度；或由于操作者粗心，分析程序选错，如测生料时用上测熟料的分析曲线或用了测石灰石的曲线，显然结果不正确。
温度湿度影响 温度、湿度是影响氢化反应的重要因素。温度过高、过低，都会使测定稳定性变差，湿度过大，会引起散射干扰造成荧光猝灭导致荧光信号降低。实践证明，湿度对汞空白有较显著影响。
3、荧光分析仪的误差来源有哪些
X射线荧光分析过程中产生误差的原因主要有操作方面、仪器方面、以及试样本身等三方面因素。操作方面带来误差的因素：①粉磨时未设定好粉磨时间和压力，达不到要求的粉磨粒度或相应的料度分布。
第一是仪器自身的误差，控温的精度，管子的透光度和仪器自身的CCD或者PMT都存在误差，特别是边缘效应。第二是标准品的误差，所有计算都是通过标准品做得标准线来计算的。标准品越精确，标准线越好推算越准确。
因此，我们制备的样品分析面应该是均一的，并可以发生漫散射，即在各个方向上的荧光X射线强度应该相同。
荧光仪是不能测量样品烧失量的，但样品烧失量的变化会使荧光结果的SiOCaO与化学分析发生偏差，尤其对水泥CaO的影响最为明显。
荧光分析法因灵敏度高，故干扰因素也多。溶剂不纯会带入较大误差，应先作空白检查，必要时，应用玻璃磨口蒸馏器蒸馏后再用。溶液中的悬浮物对光有散射作用，必要时，应用垂熔玻璃滤器滤过或用离心法除去。
到此，以上就是小编对于x荧光分析仪样品漂移的问题就介绍到这了，希望介绍关于x荧光分析仪样品漂移的3点解答对大家有用。
